消息公告

[技術授權公告]

陽明交通大學之以製程瑕疵為單位之錯誤模型抽取軟體

技術簡介

"NYCU fault-extraction tools for defect-based fault models"。其功能為從給定之電路中，抽取出以製程瑕疵 (defect) 為單位之錯誤模型 (fault model)，該錯誤模型可以與主流商用ATPG工具結合用以產生晶片測試中所需之掃描測試向量 (scan test patterns)。該軟體能產出多種形態之defect-based fault models，可授權涵蓋defect-based flip-flop fault與defect-based bridge fault。

廠商資格：

產業類別: 電機、電子、其他。

應有之研究或技術人員: 具相關領域之專業人員

其他條件:應符合本校技術移轉相關規定。

洽詢方式：請向產學共創處-智權管理及推動中心詢問相關資訊。

承辦人員  智權管理及推動中心 胡小姐

電話       03-5712121 #31689

Email      lisahu@nycu.edu.tw